يُعد جهاز T100 من أدوات الفحص المحمولة الأساسية في ورش صيانة اللوحات الإلكترونية، الحواسيب، ومعدات التحكم؛ حيث يتيح الفحص السريع والتعرف التلقائي على الدوائر المتكاملة (ICs) من عائلات المنطق الرقمي (Digital Logic)، المضخمات العملياتية (Op-Amps)، العوازل الضوئية (Optocouplers)، وقطع أشباه الموصلات دون الحاجة لراسم إشارة أو تجهيزات معقدة.
المواصفات الفنية والقدرات التشغيلية
مقبس الاختبار (ZIF Socket): مقبس احترافي 24 سن ذو ذراع إقفال (24-Pin Zero Insertion Force Socket) يدعم الشرائح ذات الأغلفة DIP من 8 إلى 24 طرفاً.
شاشة العرض: شاشة رقمية مدمجة (LCD أو OLED صغيرة) لعرض رقم الشريحة، النتيجة (PASS أو FAIL)، وتوصيف الأطراف.
مصدر الطاقة:
مستويات جهد الفحص المنطقي: دعم تلقائي لجهود 3.3V و 5.0V لتغطية عائلات CMOS و TTL دون إتلاف المكونات الحساسة.
ميزة التعرف الآلي (Auto Search / Auto Identify): إمكانية وضع شريحة منطقية ممسوحة أو مجهولة الرقم ليقوم الجهاز باختبار جدول الحقيقة المنطقي واكتشاف طرازها ومطابقته مع قاعدة بياناته الداخلية.
الفئات والمكونات المدعومة للفحص
|
| سلسلة 74 المنطقية (TTL / CMOS) | 74HC, 74LS, 74HCT, 74ACT (بوابات منطقية، قلابات Flip-Flops، عدادات Counters، سجلات إزاحة Shift Registers) | يطبق نبضات دخل ويتحقق من جدول الحقيقة (Truth Table) المنطقي لجميع البوابات. |
| سلسلة 4000 المنطقية (CMOS) | CD4000, CD4011, CD4013, CD4017, CD4066... إلخ | فحص كامل للوظائف المنطقية عند جهد 5V. |
| المضخمات ومقارنات الجهد | مضخمات تشغيلية شهيرة ومقارنات (LM358, LM324, LM393, LM339, NE5532, TL082, TL084) | اختبار كسب الإشارة والتشبع الخطي والتحويل بين الحالات. |
| المؤقتات الخطية (Timers) | NE555, NE556 | توليد نبضات والتحقق من سلامة دائرة التوقيت وتفريغ المكثف. |
| العوازل الضوئية (Optocouplers) | 4-Pin و 6-Pin و 8-Pin (مثل PC817, EL817, PC827, 4N25, 4N35, MOC3021) | فحص استجابة الثنائي الضوئي الداخلي وتوصيل ترانزستور الخرج. |
| الترانزستورات والدايودات والمنظمات | منظمات الجهد الثلاثية (7805, 7812, 7905, LM317)، دايودات الزينر، وترانزستورات NPN/PNP | التحقق من أطراف التوصيل وهبوط الجهد واستقرار الخرج. |
خطوات الاستخدام وفحص الشريحة
محاذاة الشريحة: ضع الشريحة في أسفل مقبس الـ ZIF (بمحاذاة الطرف السفلي الأقرب لذراع القفل)، مع توجيه علامة النقطة (Notch / Pin 1) إلى الأعلى.
إقفال الذراع: أنزل ذراع مقبس الـ ZIF لضمان إحكام التلامس بين أرجل الشريحة ونقاط التوصيل.
التشغيل والبحث:
الوضع التلقائي (Auto): اضغط زر الاختبار؛ سيبدأ الجهاز بالمسح السريع ويعرض رقم القطعة المتطابق إن كانت سليمة.
الوضع اليدوي (Manual Search): أدخل رقم الشريحة (مثلاً 7404 أو LM358) عبر الأزرار، ثم اضغط TEST.
قراءة النتيجة:
تنبيهات فنية لتفادي تلف الجهاز
تفريغ المكثفات قبل الفحص: إذا كانت الشريحة مفكوكة حديثاً من لوحة إلكترونية، تأكد من عدم وجود أي شحنة متبقية على أرجلها، لأن تفريغ مكثف في مقبس الـ ZIF قد يدمر معالج جهاز الفحص.
فحص الشرائح خارج البوردة (Out-of-Circuit): جهاز T100 مصمم لاختبار الشرائح المفكوكة فقط ولا يدعم الفحص أثناء وجود الشريحة ملحومة على البوردة، لأن المسارات المتوازية والمكثفات المحيطة تعيق تطبيق الجهود المنطقية وتؤدي لنتائج فحص خاطئة.
استخدام محول للشرائح السطحية (SMD Adapters): لفحص شرائح SOP8 أو SOP14 أو SOP16 السطحية، يلزم استخدام قواعد تحويل بضغط زنبركي (SOP to DIP Socket Adapter) للتركيب في مقبس الجهاز.
